国内刊号:61-1133/TG
国际刊号:1001-3814
发布日期:
作者:吉予彤, 张亮,
关键词:微焊点, 温度分布, 应力-应变响应, 疲劳寿命,
针对电子封装微焊点的可靠性问题,总结了有限元模拟在微焊点可靠性评估领域中的应用情况。系统介绍了有限元模拟在电子封装微焊点温度分布中的应用,为解决电子封装器件散热问题提供理论指导;归纳了电子器件在不同载荷条件下的应力-应变响应,以及微焊点的疲劳失效机制;系统分析微焊点疲劳寿命预测,分析了微焊点材料本构模型以及疲劳寿命模型,展望了微焊点可靠性研究的未来发展趋势,为微焊点可靠性的相关研究提供理论基础。
来源:2025年第22期
《热加工工艺》期刊编辑部